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Volumn 30, Issue 2, 1999, Pages 77-86
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To the reliability of x-ray texture measurements: Important parameters, measuring strategies, scatter bands and comparative measurements with different systems;Zur zuverlässigkeit von röntgentexturmessungen: Bedeutende parameter, meßstrategien, streubänder und vergleichende messungen mit unterschiedlichen systemen
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EID: 0033248364
PISSN: 09335137
EISSN: None
Source Type: Journal
DOI: 10.1002/(sici)1521-4052(199902)30:2<77::aid-mawe77>3.3.co;2-1 Document Type: Article |
Times cited : (2)
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References (3)
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