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Volumn , Issue , 1999, Pages 87-90

Implantation optimization for 1.55 μm VCSEL

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ELECTRIC CURRENTS; ION IMPLANTATION; MIRRORS; SEMICONDUCTING ALUMINUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTING INDIUM PHOSPHIDE; SEMICONDUCTOR DOPING;

EID: 0032691943     PISSN: 10928669     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.