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Volumn , Issue , 1999, Pages 574-579

Methodology for the verification of a `system on chip'

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APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUITS; INTEGRATED CIRCUIT TESTING;

EID: 0032690816     PISSN: 0738100X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (18)

References (9)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.