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Volumn , Issue , 1999, Pages 127-130

Minority carrier lifetime in MOCVD-grown C- and Zn-doped InGaAs

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CARBON; CARRIER CONCENTRATION; METALLORGANIC CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; PASSIVATION; PHOTOLUMINESCENCE; SEMICONDUCTOR GROWTH; ZINC;

EID: 0032684485     PISSN: 10928669     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.