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Volumn 14, Issue 7, 1999, Pages 887-900

Investigations of microroughness of superpolished surfaces by the X-ray scattering technique

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POLISHING; X RAY SCATTERING;

EID: 0032682575     PISSN: 10274510     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.