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Volumn , Issue , 1999, Pages 491-496

Novel VLSI layout fabric for deep sub-micron applications

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CAPACITANCE; ELECTRIC RESISTANCE; ELECTRIC WIRE; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT;

EID: 0032678594     PISSN: 0738100X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (72)

References (18)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.