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Volumn , Issue , 1999, Pages 59-65

Integrated approach to machine fault diagnosis

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BANDWIDTH; EQUIPMENT TESTING; EXPERT SYSTEMS; FEATURE EXTRACTION; FUZZY SETS; NEURAL NETWORKS; TEXTILE MACHINERY;

EID: 0032670764     PISSN: 10493328     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (13)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.