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Volumn 3725, Issue , 1999, Pages 53-57

Method of radical beam epitaxy

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DEFECTIVE HOLE CONDUCTIVITY; RADICAL BEAM EPITAXY;

EID: 0032669518     PISSN: 0277786X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (7)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.