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Volumn 3615, Issue , 1999, Pages 64-77

SILEX final ground testing and in-flight performances assessment

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BIT ERROR RATE; COMMUNICATION SATELLITES; MATHEMATICAL MODELS; OPTICAL COMMUNICATION; SATELLITE COMMUNICATION SYSTEMS; SEMICONDUCTOR LASERS;

EID: 0032668695     PISSN: 0277786X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.