메뉴 건너뛰기





Volumn 3, Issue , 1999, Pages 1498-1503

Overview of IEEE-STD-1241: `Standard for terminology and test methods for analog-to-digital converters'

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRONIC EQUIPMENT TESTING; MEASUREMENT ERRORS; STANDARDIZATION; STANDARDS;

EID: 0032655472     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (28)

References (3)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.