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Volumn 3, Issue , 1999, Pages 2067-2075

High energy X-ray microscope for the local structural characterization of bulk materials

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DIFFRACTION; OPTICS; SYNCHROTRON RADIATION; THREE DIMENSIONAL;

EID: 0032642228     PISSN: 02734508     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.