Strain effects on the energy band-gap in oxygenated CdTe thin films studied by photoreflectance

Journal of Physics and Chemistry of Solids

Volumn 60, Issue 6, 1999, Pages 807-811

  Alejo Armenta, L N ^a   Espinoza Beltran F J ^b,d   Alejo Armenta, C A ^a,c   Vazquez Lopez C ^b   Arizpe Chavez H ^d   Ramirez Bon R ^b,d   Zelaya Angel, O ^b   Gonzalez Hernandez J ^b  

^a Div Cie Basicas Ing Univ A   (Mexico)

^b DEPARTAMENTO DE FÍSICA   (Mexico)

^c Centro de Ciencias de Sinaloa   (Mexico)

^d UNIVERSIDAD DE SONORA   (Mexico)

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CRYSTAL LATTICES; CRYSTAL ORIENTATION; DEFORMATION; ELECTRON TRANSITIONS; ENERGY GAP; OXYGEN; SEMICONDUCTING CADMIUM TELLURIDE; SPUTTERING; STRAIN; TENSILE STRESS; THIN FILMS; X RAY CRYSTALLOGRAPHY;

PHOTOREFLECTANCE SPECTROSCOPY;

SEMICONDUCTING FILMS;

EID: 0032627503     PISSN: 00223697     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0022-3697(98)00338-2     Document Type: Article

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