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Volumn 3732, Issue , 1999, Pages 81-92

Near-field microscopy of second-harmonic generation

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FERROELECTRIC MATERIALS; FERROMAGNETIC MATERIALS; MICROSCOPES; NONLINEAR OPTICS; OPTICAL MICROSCOPY;

EID: 0032624786     PISSN: 0277786X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.