Determination of the refractive indices of layers in a multilayer stack by a guided-wave technique

Applied Optics

Volumn 38, Issue 19, 1999, Pages 4177-4181

  Massaneda, Josep ^a   Flory, Francois ^a   Pelletier, Emile ^a  

^a Ecole Centrale Marseille   (France)

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ANISOTROPY; BIREFRINGENCE; GUIDED ELECTROMAGNETIC WAVE PROPAGATION; OPTICAL MULTILAYERS; REFRACTIVE INDEX; SILICA; TANTALUM COMPOUNDS; THIN FILMS;

ION PLATING; M-LINES TECHNIQUE; MULTILAYER STACK; TANTALUM PENTOXIDE;

OPTICAL FILMS;

EID: 0032606946     PISSN: 1559128X     EISSN: 21553165     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/AO.38.004177     Document Type: Article

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