A reduction-pyrolysis-catalysis synthesis of diamond

Science

Volumn 281, Issue 5374, 1998, Pages 246-247

  Li, Yadong ^a   Qian, Yitai ^a   Liao, Hongwei ^a   Ding, Yi ^a   Yang, Li ^a   Xu, Cunyi ^a   Li, Fangqing ^a   Zhou, Guien ^a  

^a UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON TETRACHLORIDE; CATALYSIS; POWDERS; PYROLYSIS; RAMAN SPECTROSCOPY; REDUCTION; SODIUM; SYNTHESIS (CHEMICAL); TEMPERATURE; X RAY POWDER DIFFRACTION;

DIAMOND POWDER; FLUX;

DIAMONDS;

CARBON TETRACHLORIDE; DIAMOND;

CATALYSIS; DIAMOND SYNTHESIS; PYROLYSIS; REDUCTION;

ARTICLE; GEOLOGY; PRIORITY JOURNAL; PYROLYSIS; REDUCTION; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

EID: 0032503989     PISSN: 00368075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1126/science.281.5374.246     Document Type: Article

References (27)

1. J. E. Graebner, S. Jin, G. W. Kammiott. J. A. Herb, C. F. Gardinier, Nature 359, 401 (1992).
2. F. P. Bundy, H. T. Hall, H. M. Strong, R. H. Wentorf, ibid. 176, 51 (1955).
3. N. R. Gneiner, D. S. Phillips, J. D. Johnson, F. Volk, ibid. 333, 440 (1988).
4. M. V. Thiel and F. H. Ree, J. Appl. Phys. 62, 1761 (1987).
5. R. Roy, D. Ravichandran, P. Ravichandran, A. Bazian, J. Mater. Res. 11, 1164 (1996).
6. X.-Z. Zhao, R. Roy, K. A. Cherian, A. Badzian, Nature 385, 513 (1997).
7. W. G. Everssle, U.S. Patent 3,030,187 (1958); U. S. Patent 3,030,188 (1958); J. C. Angus, H. A. Wiu, W. S. Stanko, J. Appl. Phys. 39, 2915 (1968); B. V. Spitsyn, L. L. Bouilov, B. V. Deryagin, J. Cryst. Growth 53, 219 (1981); S. Mastumoto, Y. Sato, M. Kamo, N. Setaka, Jpn. J. Appl. Phys. 21, L183 (1982); S. J. Harris, Appl. Phys. Lett. 56, 2298 (1990).
8. W. G. Everssle, U.S. Patent 3,030,187 (1958); U. S. Patent 3,030,188 (1958); J. C. Angus, H. A. Wiu, W. S. Stanko, J. Appl. Phys. 39, 2915 (1968); B. V. Spitsyn, L. L. Bouilov, B. V. Deryagin, J. Cryst. Growth 53, 219 (1981); S. Mastumoto, Y. Sato, M. Kamo, N. Setaka, Jpn. J. Appl. Phys. 21, L183 (1982); S. J. Harris, Appl. Phys. Lett. 56, 2298 (1990).
9. W. G. Everssle, U.S. Patent 3,030,187 (1958); U. S. Patent 3,030,188 (1958); J. C. Angus, H. A. Wiu, W. S. Stanko, J. Appl. Phys. 39, 2915 (1968); B. V. Spitsyn, L. L. Bouilov, B. V. Deryagin, J. Cryst. Growth 53, 219 (1981); S. Mastumoto, Y. Sato, M. Kamo, N. Setaka, Jpn. J. Appl. Phys. 21, L183 (1982); S. J. Harris, Appl. Phys. Lett. 56, 2298 (1990).
10. W. G. Everssle, U.S. Patent 3,030,187 (1958); U. S. Patent 3,030,188 (1958); J. C. Angus, H. A. Wiu, W. S. Stanko, J. Appl. Phys. 39, 2915 (1968); B. V. Spitsyn, L. L. Bouilov, B. V. Deryagin, J. Cryst. Growth 53, 219 (1981); S. Mastumoto, Y. Sato, M. Kamo, N. Setaka, Jpn. J. Appl. Phys. 21, L183 (1982); S. J. Harris, Appl. Phys. Lett. 56, 2298 (1990).
11. A. Aisenberg and K. Chabot, J. Appl. Phys. 42, 2953 (1971); E. G. Spencer, P. H. Schmidt, D. J. Joy, F. J. Sanssalone, Appl. Phys. Lett. 29, 118 (1976); C. Weissmantal et al., Thin Solid Films 72, 19 (1980).
12. A. Aisenberg and K. Chabot, J. Appl. Phys. 42, 2953 (1971); E. G. Spencer, P. H. Schmidt, D. J. Joy, F. J. Sanssalone, Appl. Phys. Lett. 29, 118 (1976); C. Weissmantal et al., Thin Solid Films 72, 19 (1980).
13. A. Aisenberg and K. Chabot, J. Appl. Phys. 42, 2953 (1971); E. G. Spencer, P. H. Schmidt, D. J. Joy, F. J. Sanssalone, Appl. Phys. Lett. 29, 118 (1976); C. Weissmantal et al., Thin Solid Films 72, 19 (1980).
14. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
15. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
16. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
17. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
18. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
19. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
20. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
21. S. S. Lee, D. W. Minsek, D. J. Vestyck, P. Chen, Science 263, 1596 (1994); D. S. Whitmel and R. Williamson, Thin Solid Films 35, 255 (1976); L. Holland and S. M. Ojha, ibid. 48, L17 (1976); M. Sokolowski, A. Sokolowska, B. Gokieli, A. Rusek, Z. Romanowski, J. Cryst. Growth 47, 421 (1979); H. Vora and T. J. Moravec, J. Appl. Phys. 52, 6151 (1981); K. Suzudi et al., Appl. Phys. Lett. 50, 728 (1987); Y. Muranaka, H. Yamashita, K. Sato, H. Miyadera, J. Appl. Phys. 67, 6247 (1990); J. Lee, R. W. Collins, R. Messier, Appl. Phys. Lett. 70, 1527 (1997).
22. J.-J. Wu and F. C.-N. Hong, Appl. Phys. Lett. 70, 185 (1997).
23. I. L Finar, Organic Chemistry (Longman, White Plains, NY, 1973), vol. 1, chap. 3, p. 76.
24. V. P. Novikov and V. P. Dymont, Appl. Phys. Lett. 70, 200 (1997).
25. See supplementary x-ray data [Joint Committee on Powder Diffraction Standards (JCPDS) 6-0675].
26. S. A. Solin and A. K. Ramdas, Phys. Rev. B 1, 1678 (1970).
27. We thank Y. C. Liu, H. Y. Fan, Y. H. Zhang, Q. X. Guo, and S. Q. Yu for helpful discussions. This work was supported by the National Natural Science Foundation of China and the National Nanometer Materials Climbing Project.