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Volumn 295, Issue 3, 1998, Pages 245-248

Monolayer X-ray reflectometry at the air-water interface

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EID: 0032500466     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0009-2614(98)00964-6     Document Type: Article
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References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.