Spectroscopic, voltammetric, and electrochemical scanning tunneling microscopic study of underpotentially deposited Cu corrosion and passivation with self-assembled organomercaptan monolayers

Langmuir

Volumn 14, Issue 3, 1998, Pages 640-647

  Zamborini, Francis P ^a   Campbell, Joseph K ^a   Crooks, Richard M ^a  

^a TEXAS A AND M UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COPPER; CORROSION; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; GOLD; MONOLAYERS; OXIDATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SULFUR COMPOUNDS;

SELF-ASSEMBLED MONOLAYERS;

PASSIVATION;

EID: 0032477657     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la970905z     Document Type: Article

References (60)

1. Zamborini, F. P.; Crooks, R. M. Langmuir, submitted for publication.
2. Zamborini, F. P.; Crooks, R. M. Langmuir 1997, 13, 122-126.
3. Jennings, G. K.; Laibinis, P. E. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 5208-5214.
4. Jennings, G. K.; Laibinis, P. E. Langmuir 1996, 12, 6173-6175.
5. Walker, R. Anti-corrosion 1970, 17, 9-15.
6. Hotlos, J.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Surf. Sci. 1995, 335, 129-144.
7. Manne, S.; Hansma, P. K.; Massie, J.; Elings, V. B.; Gewirth, A. A. Science 1991, 257, 183-186.
8. Omar, I. H.; Pauling, H. J.; Jüttner, K. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 2187-2192.
9. Hachiya, T.; Honbo, H.; Itaya, K. J. Electroanal. Chem. 1991, 315, 275-291.
10. Green, M. P.; Hanson, K. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1992, 10, 3012-3018.
11. Magnussen, O. M.; Hotlos, J.; Nichols, R. J.; Kolb, D. M.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 2929-2932.
12. Zhang, J.; Sung, Y.-E.; Rikvold, P. A.; Wieckowski, A. J. Chem. Phys. 1996, 104, 5699-5712.
13. Möller, F. A.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Phys. Rev. B 1995, 51, 2484-2490.
14. Barcia, O. E.; Mattos, O. R.; Pebere, N.; Tribollet, B. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 2825-2832.
15. Hack, H. P.; Pickering, H. W. J. Electrochem. Soc. 1991, 138, 690-695.
16. Georgiadou, M.; Alkire, R. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 1340-1347.
17. Brossard, L. J. Electrochem. Soc. 1983, 130, 403-405.
18. Braun, M.; Nobe, K. J. Electrochem. Soc. 1979, 126, 1666-1671.
19. Cooper, R. S.; Bartlett, J. H. J. Electrochem. Soc. 1958, 105, 109-116.
20. Zhang, X. G.; Stimming, U. Corros. Sci. 1990, 30, 951-954.
21. Morales, J.; Esparza, P.; Gonzalez, S. Langmuir 1996, 12, 500-507.
22. Suggs, D. W.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 10725-10733.
23. Suggs, D. W.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8349-8355.
24. Kowal, K.; DeLuccia, J.; Josefowicz, J. Y.; Laird, C.; Farrington, G. C. J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 2471-2481.
25. Chan, H. S. O.; Ho, P. K. H.; Zhou, L.; Luo, N.; Ng, S. C.; Li, S. F. Y. Langmuir 1996, 12, 2580-2586.
26. Pickering, H. W.; Wu, Y. C.; Gregory, D. S.; Geh, S. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 976-983.
27. Cruickshank, B. J.; Gewirth, A. A.; Rynders, R. M.; Alkire, R. C. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 2829-2832.
28. Moffat, T. P.; Fan, F.-R. F.; Bard, A. J. J. Electrochem. Soc. 1991, 138, 3224-3235.
29. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167.
30. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1990-1995.
31. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028.
32. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K.-S.; Gao, Z.; Tan, K.-L.; Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64.
33. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1994, 141, 2018-2023.
34. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 3696-3704.
35. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846.
36. Haneda, R.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 1215-1221.
37. Burgess, J. D.; Hawkridge, F. M. Langmuir 1997, 13, 3781-3786.
38. Schoer, J. K.; Ross, C. B.; Crooks, R. M.; Corbitt, T. S.; Hampden-Smith, M. J. Langmuir 1994, 10, 615-618.
39. Snyder, S. R. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 5C.
40. Ross, C. B.; Sun, L.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 632-636.
41. Chailapakul, O.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 884-888.
42. Hsu, T.; Cowley, J. M. Ultramicroscopy 1983, 11, 239-250.
43. Sun, L.; Crooks, R. M. J. Electrochem. Soc. 1991, 138, L23-L25.
44. Crooks, R. M.; Sun, L.; Xu, C.; Hil, S. L.; Ricco, A. J. Spectroscopy 1993, 5, 28.
45. Widrig, C. A.; Chung, C.; Porter, M. D. J. Electroanal. Chem. 1991, 310, 335-359.
46. This broad wave could be due to oxidation of the thiolate; however, phenols are also known to polymerize at positive potentials.
47. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559-3568.
48. Sun, L.; Kepley, L. J.; Crooks, R. M. Langmuir 1992, 8, 2101-2103.
49. Chailapakul, O.; Sun, L.; Xu, C.; Crooks, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12459-12467.
50. Porter, M. D. Anal. Chem. 1988, 60, 1143A-1155A.
51. Xu, C.; Sun, L.; Kepley, L. J.; Crooks, R. M.; Ricco, A. J. Anal. Chem. 1993, 65, 2102-2107.
52. CRC Handbook of Chemistry and Physics, 71st ed.; Lide, D. R., Ed.; CRC Press: Boston, 1990.
53. Practical Surface Analysis, 2nd ed.; Briggs, D., Seah M. P., Eds.; John Wiley & Sons: New York, 1990; Vol. 1, pp 487-529.
54. Wagner, C. D.; Kiggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer Corporation-Physical Electronics Division: Eden Prairie, MN, 1979.
55. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1989, 93, 1670-1673.
56. Honbo, H.; Sugawara, S.; Itaya, K. Anal. Chem. 1990, 62, 2424-2429.
57. Trevor, D. J.; Chidsey, C. E. D.; Loiacono, D. N. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 929-932.
58. Sun, L.; Crooks, R. M. Langmuir 1993, 9, 1951.
59. Kim, Y.-T.; Bard, A. J. Langmuir 1992, 8, 1096.
60. Edinger, K.; Golzhauser, A.; Demota, K.; Woll, C.; Grunze, M. Langmuir 1993, 9, 4-8.