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Volumn 207, Issue 2, 1998, Pages 577-594

Defect-enhanced electron transport through semiconductor barriers

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EID: 0032390307     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199806)207:2<577::AID-PSSB577>3.0.CO;2-X     Document Type: Article
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References (28)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.