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Volumn 5, Issue 3, 1998, Pages 989-991

XAFS and X-MCD spectroscopies with undulator gap scan

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EXAFS; Spin polarized EXAFS; Undulator sources; X MCD

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EID: 0032375435     PISSN: 09090495     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0909049597014702     Document Type: Article
Times cited : (23)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.