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Volumn 5, Issue 3, 1998, Pages 998-1000

X-ray magnetic reflectometry using circularly polarized radiation

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Specular reflectivity; X ray magnetic scattering

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EID: 0032362293     PISSN: 09090495     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0909049597016099     Document Type: Article
Times cited : (8)

References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.