Estudio comparativo de las propiedades estructurales y electrónicas de las superficies Si(100) (2x1)-Sb y Si(100) (2x1)-As

Revista Mexicana de Fisica

Volumn 44, Issue 4, 1998, Pages 381-384

  Gonzalez Mendez M E ^a,b   Morales De La Garza, L ^c   Takeuchi, Noboru ^c  

^a CENTRO DE INVESTIGACIÓN CIENTÍFICA Y DE EDUCACIÓN SUPERIOR DE ENSENADA   (Mexico)

^b UNIVERSIDAD DE SONORA   (Mexico)

^c CENTRO DE CIENCIAS DE LA MATERIA CONDENSADA   (Mexico)

Author keywords

Electronic properties; Structural properties

Indexed keywords

EID: 0032347097     PISSN: 0035001X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Review

References (15)

1. J.M. Gaines et al., J. Vac. Sci. Teclmol. B 6 (1988) 1378.
2. K. Sakamoto et al., Jpn. J. Appl. Phys. 26 (1987) 666.
3. M. Sasaki et al., Appl. Surf. Sci. 82-83 (1994) 387.
4. M. Copel, M.C. Reuter, E. Kaxiras, and R.M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63 (1989) 632.
5. R. Cao, X. Yang, J. Terry, and P. Pianneta, Appl. Phys. Lett. 61 (1992) 237.
6. Véase por ejemplo P. Kruger, and J. Pollman, Appl. Phys. A 59 (1994) 487.
7. A. Cricenti et al., Sol. State Comm. 86 (1993) 667.
8. R.I.G. Uhrberg, R.D. Bringans, R.Z. Bachrach, and J.E. Northrup, Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 520.
9. J. Nogami, A.A. Baski, and C.F. Quate, Appl. Phys. Lett. 58 (1991) 475.
10. M. Richter et al., Phys. Rev. Lett. 65 (1990) 3417.
11. S.J. Jenkins and G.P. Srivastava, Surf. Sci. 352-354 (1996) 411.
12. L. Kleinman and D.M. Bylander, Phys. Rev. Lett. 48 (1982) 1425.
13. N. Takeuchi, J. Vac. Sci. Technol. B., aceptado
14. N. Takeuchi, Phys. Rev. B 53 (1996) 7996.
15. N. Takeuchi, Phys. Rev. B 55 (1997) 2416.