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Volumn 5, Issue 3-4, 1998, Pages 719-722

Interface structure and preferred orientation of Ag/Si(111) revealed by X-ray diffraction

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EID: 0032328997     PISSN: 0218625X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1142/s0218625x98001080     Document Type: Article
Times cited : (18)

References (8)
  • 7
    • 11744286418 scopus 로고    scopus 로고
    • private communication
    • R. D. Aburano, private communication.
    • Aburano, R.D.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.