메뉴 건너뛰기





Volumn , Issue , 1998, Pages 1112-1119

Built in self repair for embedded high density SRAM

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALGORITHMS; BUILT-IN SELF TEST; EMBEDDED SYSTEMS; RANDOM ACCESS STORAGE;

EID: 0032308289     PISSN: 10893539     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (174)

References (11)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.