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Volumn , Issue , 1998, Pages 412-421

Accumulator based deterministic BIST

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DETERMINISTIC TESTING; TEST PATTERN GENERATION;

EID: 0032306242     PISSN: 10893539     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/TEST.1998.743181     Document Type: Conference Paper
Times cited : (57)

References (32)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.