메뉴 건너뛰기





Volumn , Issue , 1998, Pages 423-426

Imaging of ferroelectric domains with sub micrometer resolution by scanning force microscopy

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FERROELECTRIC DOMAINS; SCANNING FORCE MICROSCOPY (SFM);

EID: 0032285842     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (10)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.