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Volumn 1, Issue , 1998, Pages 871-873

Planned optical diagnostics for the APS low-energy undulator test line

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ELECTROMAGNETIC WAVE DIFFRACTION; ELECTRON BEAMS; ELECTRON GUNS; LIGHT SOURCES; SPONTANEOUS EMISSION;

EID: 0032267447     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.