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Volumn , Issue , 1998, Pages 572-574

Self-heating effect in SOI MOSFET's

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ENERGY GAP; SEMICONDUCTOR DEVICE MODELS; SILICON ON INSULATOR TECHNOLOGY; THRESHOLD VOLTAGE;

EID: 0032226861     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ICSICT.1998.785951     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (2)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.