메뉴 건너뛰기





Volumn , Issue 10, 1998, Pages 15-17

Annealing effect on structure of polycrystalline silicon

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; CRYSTAL DEFECTS; IMPURITIES; POLYCRYSTALS; RAMAN SPECTROSCOPY; SEMICONDUCTING SILICON; TEMPERATURE CONTROL;

EID: 0032182577     PISSN: 00260819     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (1)

References (4)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.