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Volumn 7, Issue 4, 1998, Pages

Quantum efficiency measurements of an uncoated CEM in the range 0.14-160 nm (9 keV-8 eV)

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ALUMINUM; MONOCHROMATORS; OPTICAL FILTERS; PHOTODIODES; QUANTUM EFFICIENCY; SEMICONDUCTING SILICON;

EID: 0032121320     PISSN: 09639659     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0963-9659/7/4/001     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (7)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.