New and versatile ultrahigh vacuum scanning tunneling microscope for film growth experiments

Review of Scientific Instruments

Volumn 69, Issue 7, 1998, Pages 2696-2703

  Wilms, M ^a   Schmidt, M ^a   Bermes, G ^a   Wandelt, K ^a  

^a UNIVERSITY OF BONN   (Germany)

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ADSORPTION; AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY; DEPOSITION; FILM GROWTH; GASES; METALS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; THIN FILMS; VACUUM; VACUUM APPLICATIONS;

DYNAMIC WORK FUNCTION; KELVIN PROBE; METAL DEPOSITION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPE; THERMAL DESORPTION SPECTROSCOPY; ULTRAHIGH VACUUM;

MICROSCOPES;

EID: 0032112618     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149001     Document Type: Article

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