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Volumn 40, Issue 6, 1998, Pages 240-244

Test Time Reduction - Chances and Limits;Versuchszeit reduzieren: Möglichkeiten und Grenzen

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COST EFFECTIVENESS; OPTIMIZATION;

EID: 0032089660     PISSN: 00255300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.