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Volumn 409, Issue 1-3, 1998, Pages 275-277

Production testing issues for ASICs for high energy physics

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HIGH ENERGY PHYSICS; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT; INTEGRATED CIRCUIT TESTING; NUCLEAR INSTRUMENTATION;

EID: 0032068971     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-9002(97)01279-5     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.