-
1
-
-
2642650439
-
-
Serrano, J. L., Ed., VCH: Weinheim, Chapter 11
-
(a) Ros, B. in Metallomesogens. Synthesis, Properties and Applications; Serrano, J. L., Ed., VCH: Weinheim, 1996; Chapter 11.
-
(1996)
Metallomesogens. Synthesis, Properties and Applications
-
-
Ros, B.1
-
3
-
-
33748246176
-
-
(a) Marcos, M.; Serrano, J. L.; Sierra, T.; Giménez, M. J. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1992, 31, 1471-1472.
-
(1992)
Angew. Chem., Int. Ed. Engl.
, vol.31
, pp. 1471-1472
-
-
Marcos, M.1
Serrano, J.L.2
Sierra, T.3
Giménez, M.J.4
-
4
-
-
33751386295
-
-
(b) Marcos, M.; Serrano, J. L.; Sierra, T.; Giménez, M. J. Chem. Mater. 1993, 5, 1332-1337.
-
(1993)
Chem. Mater.
, vol.5
, pp. 1332-1337
-
-
Marcos, M.1
Serrano, J.L.2
Sierra, T.3
Giménez, M.J.4
-
5
-
-
0001392541
-
-
(c) Iglesias, R.; Marcos, M.; Serrano, J. L.; Sierra, T.; Pérez-Jubindo, M. A. Chem. Mater. 1996, 8, 2611-2617.
-
(1996)
Chem. Mater.
, vol.8
, pp. 2611-2617
-
-
Iglesias, R.1
Marcos, M.2
Serrano, J.L.3
Sierra, T.4
Pérez-Jubindo, M.A.5
-
6
-
-
84990148264
-
-
(d) Espinet, P.; Etxebarría, J.; Marcos, M.; Pérez, J.; Remón, A.; Serrano, J. L. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1989, 28, 1065.
-
(1989)
Angew. Chem., Int. Ed. Engl.
, vol.28
, pp. 1065
-
-
Espinet, P.1
Etxebarría, J.2
Marcos, M.3
Pérez, J.4
Remón, A.5
Serrano, J.L.6
-
7
-
-
0001133174
-
-
(e) Baena, M. J.; Barberá, J.; Espinet, P.; Ezcurra, A.; Ros, M. B., Serrano, J. L. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 1899.
-
(1994)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.116
, pp. 1899
-
-
Baena, M.J.1
Barberá, J.2
Espinet, P.3
Ezcurra, A.4
Ros, M.B.5
Serrano, J.L.6
-
8
-
-
33750305501
-
-
(f) Baena, M. J.; Espinet, P.; Ros, M. B.; Serrano, J. L.; Ezcurra, A. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1993, 32, 1203.
-
(1993)
Angew. Chem., Int. Ed. Engl.
, vol.32
, pp. 1203
-
-
Baena, M.J.1
Espinet, P.2
Ros, M.B.3
Serrano, J.L.4
Ezcurra, A.5
-
9
-
-
0000020850
-
-
(g) Thompson, N.; Serrano, J. L.; Baena, M. J.; Espinet, P. Chem. Eur. J. 1996, 2, 214-220.
-
(1996)
Chem. Eur. J.
, vol.2
, pp. 214-220
-
-
Thompson, N.1
Serrano, J.L.2
Baena, M.J.3
Espinet, P.4
-
14
-
-
0029710719
-
-
(d) Heppke, G.; Krüerke, D.; Müller, M.; Bock, H. Ferroelectrics 1996, 179, 203-209.
-
(1996)
Ferroelectrics
, vol.179
, pp. 203-209
-
-
Heppke, G.1
Krüerke, D.2
Müller, M.3
Bock, H.4
-
17
-
-
0000420632
-
-
(a) Zheng, H.; Lai, C. K.; Swager, T. M. Chem. Mater. 1995, 7, 2067-2077.
-
(1995)
Chem. Mater.
, vol.7
, pp. 2067-2077
-
-
Zheng, H.1
Lai, C.K.2
Swager, T.M.3
-
18
-
-
65249187093
-
-
(b) Zheng, H.; Carroll, P. J.; Swager, T. M. Liq. Cryst. 1993, 14, 1421-1429
-
(1993)
Liq. Cryst.
, vol.14
, pp. 1421-1429
-
-
Zheng, H.1
Carroll, P.J.2
Swager, T.M.3
-
21
-
-
0002501432
-
-
Iglesias, R.; Serrano, J. L.; Sierra, T. Liq. Cryst. 1997, 22, 37-46.
-
(1997)
Liq. Cryst.
, vol.22
, pp. 37-46
-
-
Iglesias, R.1
Serrano, J.L.2
Sierra, T.3
-
23
-
-
33947479644
-
-
Kopecky, K. R.; Nonhebel, D.; Morris, G.; Hammond, G. S. J. Org. Chem. 1962, 27, 1036-1038.
-
(1962)
J. Org. Chem.
, vol.27
, pp. 1036-1038
-
-
Kopecky, K.R.1
Nonhebel, D.2
Morris, G.3
Hammond, G.S.4
-
26
-
-
85022286199
-
-
Serrete, A.; Carroll, P. J.; Swager, T. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1887.
-
(1992)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.114
, pp. 1887
-
-
Serrete, A.1
Carroll, P.J.2
Swager, T.M.3
-
28
-
-
84989571865
-
-
Van Nostrum, C. F.; Bosman, A. W.; Gelink, G. H.; Schouten, P. G.; Warman, J. M.; Kentgengs, A. P. M.; Devillers, M. A. C.; Mieijerink, A.; Picken, S. J.; Sohling, U.; Schouten, A. J.; Nolle, R. J. M. Chem. Eur. J. 1995, 1, 171-182.
-
(1995)
Chem. Eur. J.
, vol.1
, pp. 171-182
-
-
Van Nostrum, C.F.1
Bosman, A.W.2
Gelink, G.H.3
Schouten, P.G.4
Warman, J.M.5
Kentgengs, A.P.M.6
Devillers, M.A.C.7
Mieijerink, A.8
Picken, S.J.9
Sohling, U.10
Schouten, A.J.11
Nolle, R.J.M.12
-
29
-
-
0021411139
-
-
Levelut, A. M.; Oswald, P.; Ghanem, A.; Malthête, J. J. Physique 1984, 45, 745-754.
-
(1984)
J. Physique
, vol.45
, pp. 745-754
-
-
Levelut, A.M.1
Oswald, P.2
Ghanem, A.3
Malthête, J.4
-
30
-
-
2642705976
-
-
The thickness of the films were measured using a Surface Profile Measuring System, DEKTAC3ST, Veeko
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The thickness of the films were measured using a Surface Profile Measuring System, DEKTAC3ST, Veeko.
-
-
-
-
32
-
-
2642643861
-
-
Submitted for publication
-
de la Fuente, M. R.; Palacios, B.; Pérez-Jubindo, M. A.; Iglesias, R.; Serrano, J. L.; Sierra, T. Submitted for publication.
-
-
-
De La Fuente, M.R.1
Palacios, B.2
Pérez-Jubindo, M.A.3
Iglesias, R.4
Serrano, J.L.5
Sierra, T.6
-
33
-
-
0000810364
-
-
Serrano, J. L.; Sierra, T.; Gonzalez, Y.; Bolm, C.; Weickhardt, K.; Magnus, A.; Moll, A. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 8312-8321.
-
(1995)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.117
, pp. 8312-8321
-
-
Serrano, J.L.1
Sierra, T.2
Gonzalez, Y.3
Bolm, C.4
Weickhardt, K.5
Magnus, A.6
Moll, A.7
-
34
-
-
33746312537
-
-
de la Fuente, M. R.; Pérez-Jubindo, M. A.; Zubia, J.; Pérez-Iglesias, T.; Seoane, A. Liq. Cryst. 1994, 16, 1051.
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(1994)
Liq. Cryst.
, vol.16
, pp. 1051
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De La Fuente, M.R.1
Pérez-Jubindo, M.A.2
Zubia, J.3
Pérez-Iglesias, T.4
Seoane, A.5
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