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Volumn 42, Issue 1, 1998, Pages 25-30

Depth profile analysis with monolayer resolution using elastic recoil detection (ERD)

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EID: 0032047399     PISSN: 02955075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1209/epl/i1998-00547-6     Document Type: Article
Times cited : (31)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.