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Volumn , Issue 455, 1998, Pages 958-963

Neural observer schemes for robust detection and isolation of process faults

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ARTIFICIAL INTELLIGENCE; NEURAL NETWORKS; PARAMETER ESTIMATION; ROBUSTNESS (CONTROL SYSTEMS);

EID: 0031995279     PISSN: 05379989     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1049/cp:19980358     Document Type: Conference Paper
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References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.