A general approach to determine the effect of accuracy of sowing technique on yield per area;Ein allgemeiner ansatz zur quantifizierung des einflusses der gute der satechnik auf den flachenertrag

Journal of Agronomy and Crop Science

Volumn 181, Issue 4, 1998, Pages 249-255

  Huhn M ^a  

^a UNIVERSITY OF KIEL   (Germany)

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Accuracy of sowing techniques; Longitudinal distribution within rows; Nonregular plant distributions; Single plant area; Single plant yield; Thiessen polygons; Winter oilseed rape; Yield per area

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EID: 0031792390     PISSN: 09312250     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1111/j.1439-037x.1998.tb00425.x     Document Type: Article

References (10)

1. Cliff, A. D., und J. K. Ord, 1981: Spatial Processes. Models and Applications, Pion Lim., London.
2. Geisler, G., und A. Stoy, 1987:. Untersuchungen zum Einfluß der Bestandesdichte auf das Ertragspotential von Rapspflanzen (Brassica napus L. var. napus). J. Agron. & Crop Sci. 159, 232-240.
3. Griepentrog, H.-W., 1995: Längsverteilung von Sämaschinen und ihre Wirkung auf Standfläche und Ertrag bei Raps. Agrartechnische Forschung 1, 129-136.
4. Guibas, L. J., D. E. Knuth, und M. Sharir, 1990: Randomized incremental construction of Delaunay and Voronoi diagrams. Automata, Languages and Programming 17th Int. Colloq. Warwick Univ., England, July 1990, Proceedings 414-431.
5. Hühn, M., 1998: Theoretical (experimental) results on the effects of nonregular spatial patterns of plants on yield per area. J. Agron. Crop Sci., in press.
6. Johnson, N. L., und S. Kotz, 1969: Distributions in Statistics. Discrete distributions, John Wiley & Sons, New York.
7. Mülle, G., und H. J. Heege, 1981: Kornverteilung über die Fläche und Ertrag bei Getreide. Z. f. Acker- und Pflanzenbau 150, 97-112.
8. Ripley, B. D., 1981: Spatial Statistics, John Wiley & Sons, New York.
9. Thiessen, A. H., 1911: Precipitation averages for large areas. Monthly Weather Rev. 39, 1082-1084.
10. Waupotitsch, R., 1992: NCSA MinMaxer. National center for supercomputing applications, Champaign, Illinois.