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Volumn , Issue , 1998, Pages 94-98

Practical experiences in the Sony Disassembly Evaluation Workshop

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COST EFFECTIVENESS; DATA REDUCTION; PRODUCT DESIGN; RECYCLING; SERVICE LIFE; TECHNICAL PRESENTATIONS;

EID: 0031655496     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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References (1)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.