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Volumn , Issue , 1998, Pages 183-186

Challenge of high-performance, deep-submicron design in a turnkey ASIC environment

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INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT; LOGIC CIRCUITS; LOGIC DESIGN; SPURIOUS SIGNAL NOISE;

EID: 0031638412     PISSN: 10630988     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.