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Volumn 524, Issue , 1998, Pages 49-54

Automated indexing of Laue images from polycrystalline materials

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ALGORITHMS; CRYSTAL MICROSTRUCTURE; CRYSTAL ORIENTATION; LIGHT REFLECTION; STRAIN MEASUREMENT; X RAY CRYSTALLOGRAPHY; X RAY SCATTERING;

EID: 0031635287     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1557/proc-524-49     Document Type: Conference Paper
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References (13)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.