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Volumn , Issue , 1998, Pages 231-239

Using 'test model-checking' to verify the Runway-PA8000 memory model

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DESIGN; MATHEMATICAL MODELS; MULTIPROCESSING SYSTEMS; TESTING;

EID: 0031628128     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1145/277651.277689     Document Type: Conference Paper
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References (28)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.