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Volumn , Issue , 1998, Pages 119-122

Interference issues in silicon RFIC design

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CROSSTALK; ELECTRIC INDUCTORS; ELECTROMAGNETIC WAVE INTERFERENCE; SEMICONDUCTING SILICON; SEMICONDUCTOR DOPING; SPURIOUS SIGNAL NOISE; SUBSTRATES;

EID: 0031623536     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.