Specular x-ray reflectivity studies of microstructure and ordering in self-assembled multilayers

Journal of Chemical Physics

Volumn 107, Issue 2, 1997, Pages 645-652

  Malik, A ^a,b   Lin, W ^a   Durbin, M K ^a   Marks, T J ^a   Dutta, P ^a  

^a NORTHWESTERN UNIVERSITY   (United States)

^b ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

MOLECULAR ORIENTATION; MOLECULAR STRUCTURE; MONOLAYERS; MULTILAYERS; PROBES; SURFACE ROUGHNESS;

SELF ASSEMBLY TECHNIQUE; SPECULAR X RAY REFLECTIVITY;

ORGANIC COATINGS;

EID: 0031559364     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.474425     Document Type: Article

References (51)

1. A. Ulman, An Introduction to Ultrathin Organic Films (Academic, San Diego, 1991).
2. J. D. Swalen, et al., Langmuir 3, 935 (1987).
3. L. H. Dubois and R. G. Nuzzo, Annu. Rev. Phys. Chem. 43, 437 (1992).
4. R. G. Nuzzo and D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc. 105, 4481 (1983).
5. R. G. Nuzzo, F. A. Fusco, and D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc. 109, 2358 (1987).
6. M. D. Porter, T. B. Bright, D. L. Allara, and C. E. D. Chidsey, J. Am. Chem. Soc. 109, 3559 (1987).
7. C. D. Bain, E. B. Troughton, Y.-T. Tao, J. Evall, G. M. Whitesides, and R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc. 111, 321 (1989).
8. C. E. D. Chidsey and D. N. Loiacono, Langmuir 6, 682 (1990).
9. R. Maoz and J. Sagiv, Langmuir 3, 1034 (1987).
10. R. Maoz and J. Sagiv, Langmuir 3, 1045 (1987).
11. S. R. Wasserman, Y.-T. Tao, and G. M. Whitesides, Langmuir 5, 1074 (1989).
12. G. Cao, H.-G. Hong, and T. E. Mallouk, Acc. Chem. Res. 25, 420 (1992).
13. A. C. Zeppenfeld, S. L. Fiddler, W. K. Ham, B. J. Klopfenstein, and C. J. Page, J. Am. Chem. Soc. 116, 9158 (1994).
14. H. E. Katz, W. L. Wilson, and G. Scheller, J. Am. Chem. Soc. 116, 6636 (1994).
15. D. L. Allara and R. G. Nuzzo, Langmuir 1, 45 (1985).
16. S. H. Chen and C. W. Frank, Langmuir 5, 978 (1989).
17. D. L. Allara, S. V. Atre, C. A. Elliger, and R. G. Snyder, J. Am. Chem. Soc. 113, 1852 (1991).
18. D. Li, M. A. Ratner, T. J. Marks, C. Zhang, J. Yang, and G. K. Wong, J. Am. Chem. Soc. 112, 7389 (1990).
19. A. K. Kakkar, S. Yitzchaik, S. B. Roscoe, F. Kubota, D. S. Allan, T. J. Marks, W. Lin, and G. K. Wong, Langmuir 9, 388 (1993).
20. W. Lin, S. Yitzchaik, W. Lin, A. Malik, M. K. Durbin, A. G. Richter, G. K. Wong, P. Dutta, and T. J. Marks, Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 34, 1497 (1995).
21. P. N. Prasad and D. J. Williams, Introduction so Nonlinear Optical Effects in Molecules and Polymers (Wiley, New York, 1991), Chap. 4.
22. S. B. Roscoe, S. Yitzchaik, A. K. Kakkar, T. J. Marks, W. Lin, and G. K. Wong, Langmuir 10, 1337 (1994).
23. S. Di Bella, I. Fragala, M. A. Ratner, and T. J. Marks, Chem. Mater. 7, 400 (1995).
24. For a review of characterization techniques for organic thin films see, Characterization of Organic Thin Films, edited by A. Ulman (Butterworth-Heinemann, Boston, 1995).
25. For example, see P. Dutta, in Ref. 24.
26. M. G. Samant, C. A. Brown, and J. G. Gordon II, Langmuir 7, 437 (1991).
27. P. Fenter, P. Eisenberger, and K. S. Liang, Phys. Rev. Lett. 70, 2447 (1993).
28. G.-Y. Liu, P. Frnter, C. E. D. Chidsey, D. F. Ogletree, P. Eisenberger, and M. Salmeron, J. Chem. Phys. 101, 4301 (1994).
29. P. Fenter, A. Eberhardt, and P. Eisenberger, Science 266, 1216 (1994).
30. M. Pomerantz, A. Segmüller, L. Netzer, and J. Sagiv, Thin Solid Films 132, 153 (1985).
31. S. R. Wasserman, G. M. Whitesides, I. A. Tidswell, B. M. Ocko, P. S. Pershan, and J. D. Axe, J. Am. Chem. Soc. 111, 5852 (1989).
32. I. M. Tidswell, B. M. Ocko, P. S. Pershan, S. R. Wasserman, G. M. Whitesides, and J. D. Axe, Phys. Rev. B. 41, 1111 (1990).
33. I. M. Tidswell, T. A. Rabedeau, P. S. Pershan, S. D. Kosowsky, J. P. Folkers, and G. M. Whitesides, J. Chem. Phys. 95, 2854 (1991).
34. R. E. Geer, D. A. Stenger, M. S. Chen, J. M. Calvert, R. Shashidhar, Y. H. Jeong, and P. S. Pershan, Langmuir 10, 1171 (1994).
35. W. B. Caldwell et al., J. Am. Chem. Soc. 117, 6071 (1995).
36. S. B. Roscoe, A. K. Kakkar, T. J. Marks, A. Malik, M. K. Durbin, W. Lin, G. K. Wong, and P. Dutta, Langmuir 12, 4218 (1996).
37. W. Lin, T. J. Marks, S. Yitzchaik, W. Lin, and G. K. Wong, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 392, 95 (1995).
38. W. Lin, W. Lin, G. K. Wong, and T. J. Marks, J. Am. Chem. Soc. 118, 8034 (1996).
39. R. A. Neiser, J. P. Kirkland, W. T. Elam, and S. Sampath, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 266, 220 (1988).
40. H. Kisseig, Ann. Phys. 10, 769 (1931).
41. P. S. Pershan and J. Als-Nielsen, Phys. Rev. Lett. 52, 759 (1984).
42. J. Als-Nielsen, Physica 140A, 376 (1986).
43. A. B. Braslau, P. S. Pershan, G. Swislow, B. M. Ocko, and J. Als-Nielsen, Phys. Rev. A 38, 2457 (1988).
44. T. Ohtake, N. Mino, and K. Ogawa, Langmuir 8, 2081 (1992).
45. K. Bierbaum, M. Kinzler, C. Woll, and M. Grünze, Langmuir 11, 512 (1995).
46. For example, S.-W. Tam-Chang, H. A. Biebuyck, G. M. Whitesides, N. Jeon, and R. G. Nuzzo, Langmuir 11, 4371 (1995).
47. H.-Y. Wang, J. A. Mann, Jr., J. B. Lando, T. R. Clark, and M. E. Kenny, Langmuir 11, 4549 (1995).
48. M. Prakash, J. B. Peng, J. B. Ketterson, and P. Dutta, Chem. Phys. Lett. 128, 354 (1986).
49. P. Tippmann-Krayer, R. M. Kenn, and H. Möhwald, Thin Solid Films 210, 577 (1992).
50. A. Malik, M. K. Durbin, A. G. Richter, K. G. Huang, and P. Dutta, Phys. Rev. B 52, 654 (1995).
51. Recently, Sagiv et al. have also reported Bragg features in x-ray reflectivity data from hydrogen-bonded siloxane multilayers. See: R. Maoz, J. Sagiv, D. Degenhardt, M. Möhwald, and P. Quint, Supramol. Sci. 2, 9 (1995).