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Volumn 71, Issue 5, 1997, Pages 713-715

Metallic single electron devices fabricated using a multilayer technique

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ALUMINUM; ELECTRODES; ETCHING; LITHOGRAPHY; MASKS; OXIDATION; TUNNEL JUNCTIONS;

EID: 0031552802     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119838     Document Type: Article
Times cited : (9)

References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.