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Volumn 26, Issue 5, 1997, Pages 257-264

Multi-Element Analysis of Plants by WDXRF Using the Scattered Radiation Correction Method

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FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; SILICA;

EID: 0031502155     PISSN: 00498246     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1097-4539(199709)26:5<257::AID-XRS199>3.0.CO;2-6     Document Type: Article
Times cited : (32)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.