Coverage dependent structure of electrochemically deposited Cu on p-GaAs(100) in H2SO4 solution determined by in situ surface X-ray absorption fine structure spectra

Chemistry Letters

Volumn , Issue 8, 1997, Pages 761-762

  Kondo, Toshihiro ^a   Tamura, Kazuhisa ^a   Koinuma, Michio ^a,c   Oyanagi, Hiroyuki ^b   Uosaki, Kohei ^a  

^a HOKKAIDO UNIVERSITY   (Japan)

^b ELECTROTECHNICAL LABORATORY   (Japan)

^c KUMAMOTO UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0031497051     PISSN: 03667022     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1246/cl.1997.761     Document Type: Article

References (23)

1. For example, S. Erikson, P. Carlsson, B. Holmström, and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 313, 121 (1991); T. Thundat, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 539 (1990); K. Itaya, R. Sugawara, Y. Morita, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett., 60, 2534 (1992); S.-L. Yau, F.-R. F. Fan, and A. J. Bard, J. Electrochem. Soc., 139, 2825 (1992); P. Allongue, V. Kieling, and H. Gerischer, J. Electrochem. Soc., 140, 1009 (1993).
2. For example, S. Erikson, P. Carlsson, B. Holmström, and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 313, 121 (1991); T. Thundat, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 539 (1990); K. Itaya, R. Sugawara, Y. Morita, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett., 60, 2534 (1992); S.-L. Yau, F.-R. F. Fan, and A. J. Bard, J. Electrochem. Soc., 139, 2825 (1992); P. Allongue, V. Kieling, and H. Gerischer, J. Electrochem. Soc., 140, 1009 (1993).
3. For example, S. Erikson, P. Carlsson, B. Holmström, and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 313, 121 (1991); T. Thundat, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 539 (1990); K. Itaya, R. Sugawara, Y. Morita, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett., 60, 2534 (1992); S.-L. Yau, F.-R. F. Fan, and A. J. Bard, J. Electrochem. Soc., 139, 2825 (1992); P. Allongue, V. Kieling, and H. Gerischer, J. Electrochem. Soc., 140, 1009 (1993).
4. For example, S. Erikson, P. Carlsson, B. Holmström, and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 313, 121 (1991); T. Thundat, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 539 (1990); K. Itaya, R. Sugawara, Y. Morita, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett., 60, 2534 (1992); S.-L. Yau, F.-R. F. Fan, and A. J. Bard, J. Electrochem. Soc., 139, 2825 (1992); P. Allongue, V. Kieling, and H. Gerischer, J. Electrochem. Soc., 140, 1009 (1993).
5. For example, S. Erikson, P. Carlsson, B. Holmström, and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 313, 121 (1991); T. Thundat, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 539 (1990); K. Itaya, R. Sugawara, Y. Morita, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett., 60, 2534 (1992); S.-L. Yau, F.-R. F. Fan, and A. J. Bard, J. Electrochem. Soc., 139, 2825 (1992); P. Allongue, V. Kieling, and H. Gerischer, J. Electrochem. Soc., 140, 1009 (1993).
6. For Example, G. Tourillon, D. Guay, and A. Tadjeddine, J. Electroanal. Chem., 289, 263 (1990); O. R. Melroy, M. G. Samant, G. L. Borges, J. G. Gordon, II, L. Blum, J. H. White, M. J. Albarelli, M. McMillan, and H. D. Abruña, Langmuir, 4, 728 (1988); H. S. Yee and H. D. Abruña, J. Phys. Chem., 98, 6552 (1994).
7. For Example, G. Tourillon, D. Guay, and A. Tadjeddine, J. Electroanal. Chem., 289, 263 (1990); O. R. Melroy, M. G. Samant, G. L. Borges, J. G. Gordon, II, L. Blum, J. H. White, M. J. Albarelli, M. McMillan, and H. D. Abruña, Langmuir, 4, 728 (1988); H. S. Yee and H. D. Abruña, J. Phys. Chem., 98, 6552 (1994).
8. For Example, G. Tourillon, D. Guay, and A. Tadjeddine, J. Electroanal. Chem., 289, 263 (1990); O. R. Melroy, M. G. Samant, G. L. Borges, J. G. Gordon, II, L. Blum, J. H. White, M. J. Albarelli, M. McMillan, and H. D. Abruña, Langmuir, 4, 728 (1988); H. S. Yee and H. D. Abruña, J. Phys. Chem., 98, 6552 (1994).
9. K. W. Frese, Jr., M J Madou, and S. R. Morrison, J. Electrochem. Soc., 128, 1527 (1981); H. F. Hsieh and H. C. Shin, J. Electrochem. Soc., 138, 1965 (1991).
10. K. W. Frese, Jr., M J Madou, and S. R. Morrison, J. Electrochem. Soc., 128, 1527 (1981); H. F. Hsieh and H. C. Shin, J. Electrochem. Soc., 138, 1965 (1991).
11. K. Uosaki, Y. Shigematsu, S. Kaneko, and H. Kita, J. Phys. Chem., 93, 6521 (1989); K. Uosaki, Y. Shigematsu, H. Kita, and K. Kunimatsu, J. Phys. Chem., 94, 4623 (1990).
12. K. Uosaki, Y. Shigematsu, S. Kaneko, and H. Kita, J. Phys. Chem., 93, 6521 (1989); K. Uosaki, Y. Shigematsu, H. Kita, and K. Kunimatsu, J. Phys. Chem., 94, 4623 (1990).
13. M Koinuma and K. Uosaki, Electrochim. Acta, 40, 1345 (1995); M. Koinuma and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 409, 45 (1996).
14. M Koinuma and K. Uosaki, Electrochim. Acta, 40, 1345 (1995); M. Koinuma and K. Uosaki, J. Electroanal. Chem., 409, 45 (1996).
15. H. D. Abruña, in "Electrochemical Interfaces; Modern Techniques for In-Situ Interface Characterization", ed by H. D. Abruña, VCH, New York (1991), Chap. 1; M. F. Toney and J. McBreen, Interface, The Electrochemical Society, Spring, 22 (1991).
16. H. D. Abruña, in "Electrochemical Interfaces; Modern Techniques for In-Situ Interface Characterization", ed by H. D. Abruña, VCH, New York (1991), Chap. 1; M. F. Toney and J. McBreen, Interface, The Electrochemical Society, Spring, 22 (1991).
17. R. S. Becker, J. A. Golvchenko, and J. R. Patel, Phys. Rev. Lett., 50, 153 (1983).
18. S. M. Heald, E. Keller, and E. A. Stern, Phys. Lett., A103, 155 (1984).
19. H. Oyanagi, K. Sakamoto, R. Shioda, Y. Kuwahara, and K. Haga, Phys. Rev., B52, 5824 (1995).
20. H. Oyanagi, M. Martini, and M. Sato, Nucl. Instrum. Methods, in press.
21. S. I. Zhabinsky, J. J. Rehr, A. Ankudinov, R. C. Albers, and M. J. Eller, Phys. Rev., B52, 2995(1995).
22. F. W. Lytle, D. E. Sayers, and E. A. Stern, Physica, B158, 701(1989).
23. P. A. Montano, G. K. Shenoy, E. E. Alp, W. Schulze, and J. Urban, Phys. Rev. Lett., 56, 2076 (1986).