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Volumn 15, Issue 4, 1997, Pages 2058-2062

X-ray photoemission analysis of chemically treated I-III-VI semiconductor surfaces

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EID: 0031482162     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.580608     Document Type: Article
Times cited : (15)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.