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Volumn 2, Issue , 1997, Pages 1103-1105

Nanosecond-discharge-assisted selective separation of fine inclusions not involved in the impurity lattice

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BENEFICIATION; CRYSTAL LATTICES; GRINDING (MACHINING); IMPURITIES;

EID: 0031380094     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.