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Volumn 37, Issue 4, 1997, Pages 393-397

Photoelastic analysis of a three-dimensional specimen by optical slicing and digital image processing

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CHARGE COUPLED DEVICES; IMAGE PROCESSING; LASER BEAMS; LIGHT INTERFERENCE; LIGHT POLARIZATION; NONDESTRUCTIVE EXAMINATION; OPTICAL CORRELATION; PERSONAL COMPUTERS; RAYLEIGH SCATTERING; SPECKLE; STATISTICAL METHODS;

EID: 0031372386     PISSN: 00144851     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/BF02317303     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.