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Volumn , Issue , 1997, Pages 685-693

Incorporating physical design-for-test into routing

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ELECTRIC WIRING; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT;

EID: 0031367455     PISSN: 10893539     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.