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Volumn , Issue , 1997, Pages 233-238

Accelerated vibration life testing of electronic assemblies

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ELECTRON DEVICE TESTING; FAILURE (MECHANICAL); FAILURE ANALYSIS; MECHANICAL TESTING; VIBRATIONS (MECHANICAL);

EID: 0031356245     PISSN: 00739227     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.